Анализатор следов элементов высокоточный рентгеновский спектрометр SUPER XRF 2400
Специальная оптическая схема с использованием вторично отраженных фотоэлектронов улушает сиоотношение сигнал-шум, позволяет добиваться более низких пределов обнаружения, что делает возможным анализ следовых элементов. Специализированная система охлаждения делает инструмент более надежным а результаты более воспроизводимыми. Вакуумная система делает возможным точный анализ легких элементов: Na, Mg, Al, Si, P
Эксплуатационные характеристики
- Специальная схема оптического пути с использованием меняющихся первичных мишеней
- Оригинальная система оптического пути удовлетворяет требованиям тестирование различных микроэлементов в матрице, усиливает сигнал/шума и уменьшает пределы обнаружения
- 400Вт источник питания рентгеновской трубки позволяет добиваться более высокой скорости счета возбужденных фотоэлектронов. Пределы обнаружения на один уровень ниже, чем при общем EDXRF анализаторах, и больше подходит для тестирования микроэлементов
- Цифровые многоканальные технологии улучшают скорости счета до 100kcps, улучшая точность тестирования и уменьшая время тестирования
- Система охлаждения масла обеспечивает охлаждение рентгеновского источника, что делает прибор более устойчивым
- Оптический затвор используется при частых открываниях/закрываниях источника питания рентгеновской трубки и системы высокого давления, что влияет в свою очередь на стабильность тестов. Оснащенный оптическим затвором, спектрометр сохраняет высокое напряженя, повышая стабильность прибора
- Вакуумная система для тестирования легких элементов
- Автоматическая система отбора проб позволяет проводить последовательный анализ 12 образцов, каждый раз, значительно увеличивая эффективность работы
Технические характеристики
- Диапазон измеряемых элементов: от Na до U
- Множественные переключаемые режимы анализа: обычный РФА и анализ на вторичных фотоэлектронах
- Диапазон содержания: 0.1ppm до 99,99%
- Нижний предел обнаружения: 0.1 ppm
- Спектрометр значительно улучшает пределы обнаружения опасных элементов по сравнению с обычным настольным спектрометром РФА.
- Повторяемость: 0,1%
- Стабильность: 0,1%
- Температура окружающей среды: 15 до 30 C
- Питание: AC 220V ± 5V. AC.
- Размеры: 752 х 988 х 759 мм
Стандартная конфигурация
- Источник рентгеновского излучения, две системы возбуждения образца
- Рентгеновская камера Varian с мощностью 400Вт и масляной системой охлаждения
- Автоматический переключатель коллиматоров и фильтров
- Камера для образцов с камерой
- HD CCD камера с высоким разрешением
- UHRD крмениевый детектор (SDD)
- Автоматическая турель для образцов на 12 позиций
- Источник высоковольтного напряжения
- Профессиональное РФА программное обеспечение
Область применения
- Анализ микро-элементов в металлургической промышленности, анализ следов опасных элементов в металлах
- Экологический анализ следов тяжелых металлов почве, воздухе, воде и других средах
- Анализ следов элементов тяжелых металлов в полимерных пленках готового продукта производства
- Анализ вредных человеческому телу элементов в промышленности драгоценных металлов
- Анализ следов редкоземельных металлов
- Анализ толщины суб-нанометровых напылений в промышленности металлических покрытий
- Анализ следов вредных элементов в различных товарах народного потребления, а также игрушках
- Лабораторные исследования
- Экологический мониторинг
- Аналитический контроль
- Специализированный контроль качества
- Химия
- Горно-рудная промышленность
- Промышленность строительных материалов
- Контроль производства цемента
- Металлургия
- Электроника
- Пищевая промышленность
Оборудование прошло обязательную сертификацию и признано оптимально безопасным.
Рентгенофлуоресцентный спектрометр(анализатор) для анализа элементного состава в лабораторных и промышленных условиях является оптимальным решением благодаря своей функциональности и стабильностью работы. Лаборатории оснащенные оборудованием Skyray полностью решают поставленную задачу в минимальные сроки.
|
